phénomene d'electromigration

Bonjour à tous,

j'ai lu que ce phenomene etait lié à l'augmentation de voltages et pouvait detruire un proc; qui a des infos la dessus?

l'ami google sans doute ?

je vais chercher,ca serai bien de pouvoir savoir à peu pres quand ce phénomene se manifeste , quelles en sont les causes et peut etre les "remedes"....

Cause -> T° + tension excessives. St'un phénomène physico-chimique qui fait que les atomes constituant les interconnexions sont ejectés/diffusés autre part lors du passage du courant. Aucun remède, une fois que l'interconnexion est bouffée, ça empire car sa résistance augmente (sa section diminue), elle chauffe encore plus jusqu'au moment où elle se rompt carrément et là c'est fini pour le proco en général car on perd une liaison interne. Le phénomène existe toujours, mais le cuivre employé maintenant est bien plus stable à ce niveau et résiste beaucoup plus que l'alu précédemment utilisé. Donc maintenir son proco à T° raisonnable sans y mettre 2.2V tout le temps suffit, t'es tranquille pour 20 ans

+ effet contraire pour l'oc , l'augmentation du Vcore permet de dépasser les bruits, mais a trop monter , on fait plus de mal que le mal lui meme !

l'autre pb c les erreurs de photolithographie , piste en largeur pas constante, reduction de piste locale, surchauffe locale, et brulage de la piste et paf mort le CPU